汎銓科技股份有限公司

(一)公司簡介

1.沿革與背景
 
汎銓科技股份有限公司成立於2005年7月，為全球各半導體大廠之研發夥伴，透過高階電子顯微鏡設備及自行開發之分析技術工法，提供給客戶各項材料分析(MA)及故障分析(FA)之解決方案，為全球最先進材料分析公司之一。

2025年，公司獲台灣及日本「矽光子光損偵測裝置」的發明專利，目前持續進行歐美韓中專利申請流程中，此項專利涵蓋了一種專門用於偵測半導體導光晶片之導光通道異常現象的裝置與工法，這些異常現象包括光衰、漏光和斷光偵測，能夠有效解決在矽光子積體光路(PIC)中常見的問題。
 
2.營業項目與產品結構
 
公司主要經營項目包括材料分析MA(Materials Analysis)、故障分析FA(Failure Analysis)、表面分析SA(Surface Analysis)。
 
(二)產品與競爭條件

1.產品與技術簡介
 
檢測認證分為強制性與符合性，分別為1)強制性：電磁相容(EMC)、安規(Safety)、人體電磁波吸收比(SAR)、無線電射頻(RF)；2)符合性：射頻與軟體協定等，電信商多會要求手機業者提供該項檢測報告。

2.主要生產據點
 


圖片來源：公司法說會

(三)市場銷售與競爭

1.銷售狀況
 
迄2024年銷售地區為內銷佔78%，外銷佔22%。公司客戶群涵蓋半導體設備廠、晶圓代工廠、光電廠及各類 IC 設計公司，每月處理研發案件量達數千筆，已是半導體等高階製程研發領航者。主要客戶包括台積電、立積、嘉晶、類比科、欣興、穩懋等。

全球據點布局方面，2024年5月成立美國子公司，並通過美國子公司MSS USA CORP取得美國加州Sunnyvale廠房及土地，投資金額730萬美元，此外，亦通過日本子公司MSS JAPAN株式會社進行新租賃廠房裝修工程案，公司仍積極推進日本據點投入營運階段規畫。

2.國內外競爭廠商

公司為專業半導體材料分析及故障分析之技術服務公司，目前市場上並無與本公司完全相同之專業分析公司。而同屬國內外之分析產業同業，其各自產品組合不同，擅長之分析領域亦有差異。